mcr 流变仪附件：rheo-凯发娱发k8

所有流变测试类型的 saxs 和 sans 测量相结合

rheo sans/saxs 附件与全功能的 mcr 流变仪和 saxs 及sans 组合，可在-50 °c 至 300 °c 的温度下进行测量。您可以同时实时进行小角度散射并执行所有流变测试类型。在不同的剪切流场位置用光束观测，可提供各个平面的散射信息。可用的测量夹具包括由不同材料制成的同心圆筒（最大杯体直径 50 mm）和平行板（最大直径50mm）系统，以及 dma 和拉伸夹具（srf、scf、uxf、ser）。对于特殊的安装条件，例如，在有限的空间内，我们可以提供特殊的流变仪类型。此外，我们的专家可根据要求设计满足您特定需求的单独测量装置。

saxs 符合流变学原理，可进行剪切导致的纳米结构分析

小角 x 射线散射（saxs）和广角 x 射线散射（waxs）是对各种材料（例如，生物材料、胶体、悬浮液、纳米晶聚合物材料）的密度差异进行纳米级表征的有效方法。获得大分子的形状和尺寸、部分有序材料的特性距离、孔径及其他数据等相关信息。saxs 测量方法结合流变学，可以研究复杂样品内部由剪切诱导的纳米结构变化 – 从流动和温度诱导的晶化到剪切带，以及其他诸多结构变化。所有辐照部件的默认材质为聚碳酸酯，也可根据要求提供其他材料（如聚酰亚胺）。辐照过的部件可以在一分钟内进行更换。

sans 和 gisans –纳米级表征

小角中子散射（sans）是一种强大的纳米级材料表征方法。中子通过原子核或磁性样品中未成对电子自旋的磁距进行散射。x-射线光子不同，具有一个类似波长，与电子云相互作用，而中子则是与其原子核相互作用。中子是电中性粒子，可以深入探测固体材料。允许 rheo-sans 与介电光谱测量组合使用。

此外，还可以整合掠入式小角中子散射 (gisans) 或中子散射特殊测量系统。

在默认情况下，辐照部件的材质为金属钛，也可根据要求提供其他材料（如石英玻璃）。辐照过的部件可以在一分钟内进行更换。

独特的测量技术，适用于复杂的应用

独特的 rheo-saxs/sans anton paar 的安装程序已在世界各地的设施中用于复杂的最新技术研发。saxs 和 sans 都需要特殊的 x 射线源（同步加速器）或中子（反应堆或散裂源），通常只有大型研究机构才能使用。

典型应用：

• 聚合物溶液、熔体和薄膜的表征
• 生命科学材料
• 测定所有类型胶体中的（剪切诱导）纳米级结构
• 流动和温度引起的结晶和剪切带
• 关于高分子的形状和大小的信息。
• 部分有序材料的特征距离
• 生理条件下的蛋白质研究
• 反应动力学的时间分辨研究